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中文名称:光谱型椭圆偏振仪

型号规格:Alpha-se

负责人:王久洪

E-mail:jhw@mail.xjtu.edu.cn

生产厂商:Woollam/美国

机器状态:正常

对外服务:

联系电话:2983399513

所在地点:曲江校区西五楼微纳加工中心

主要性能指标:

技术参数 1.光谱范围: 370nm 到 900nm (180个波长) 2.入射角:70° 3.数据采样时间:3-30sec 4.检测器分辨率:0.1 nm 主要特点 1.α-SE无需专业维护,唯一的消耗品是价格低廉的光源-卤素灯(寿命通常为2000小时)。 2.α-SE是一款即可用于科研也可用于生产检测的紧凑型仪器,操作十分简便。即使毫无操作经验的员工也可以在半小时内学会测量。

主要功能:

仪器简介 该设备是一台高效、低廉的薄膜厚度及光学常数测量系统。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配备强大的数据分析软件。几十秒内完成180个波长的测量及数据的拟合。α-SE特别适用于被测样品比较固定,模型容易建立,需要生产监控与科研兼顾的情况。 主要功能 可对电介质、半导体、有机物等多种薄膜材料进行厚度、光学常数、表面粗糙、界面层等参数的高精度测量。